Vyšetrovanie kryštalografických defektov v polovodičových materiáloch pre optoelektroniku ; R. Srnánek, A. Šatka, G. Wagner, K. Seidel, V. Gottschalch

Bibliographic Details
Main Authors: Srnánek, Rudolf, 1944- (Author), Šatka, Alexander, 1960- (Author), Wagner, G. (Author), Seidel, K. (Author), Gottschalch, V. (Author)
Format: Article
Language:Slovak
PhysicalDescription:Obr. 4., lit. 5 zázn. v slov., angl.
Subjects: