A Built-in Current Sensor for Iddq Testing of CMOS Integrated Circuits

Bibliographic Details
Main Authors: Stopjaková, Viera, 1968- (Author), Špaček, Vladimír (Author), Weber, Bedřich (Author)
Format: Article
Language:Slovak
English
PhysicalDescription:Grafy 2, sch. 5, lit. 10 zázn. v angl.
ISSN:0013-578X
Subjects:

MARC

LEADER 00000nab a2200000 a 4500
001 vtls000562034
003 SK-MaSNL
005 20260304083709.0
008 250425c1995 xo 0 slo
015 |a SNBRB19rr/mm-uuuuu 
035 |a CL0562172 
035 |a urn:nbn:sk:snk-abeh5 
035 |a (urnnbn)urn:nbn:sk:snk:ar-a03nnn 
035 |a (uuid)fb3009a1-2536-44ea-a84e-1f5a0ffe72fc 
040 |a SNKBUCL  |b slo  |c SNKBUCL  |e AACR2 
041 0 |a eng 
044 |a xo  |c SK 
080 |a 621.3.049.77.011.7:621.317.31.084.2  |2 1981 
080 |a 621.317.31.084.2  |2 1981 
100 1 |a Stopjaková, Viera,  |d 1968-  |4 aut  |9 219546 
245 1 0 |a A Built-in Current Sensor for Iddq Testing of CMOS Integrated Circuits  |c Viera Stopjaková, Vladimír Špaček, Bedřich Weber 
300 |b Grafy 2, sch. 5, lit. 10 zázn. v angl. 
650 0 7 |a obvody integrované CMOS  |2 snkbucl  |9 950466 
650 0 7 |a testovanie obvodov  |2 snkbucl  |9 956373 
650 0 7 |a snímače elektrického prúdu  |2 snkbucl  |9 997604 
655 7 |a články z novín a časopisov  |2 snkbucl  |9 267496 
700 1 |a Špaček, Vladimír  |4 aut  |9 953494 
700 1 |a Weber, Bedřich  |4 aut  |9 357768 
773 0 |t Journal of electrical engineering  |g Roč. 46, č. 6 (1995), s. 205-209  |x 0013-578X 
850 |a Slovenská národná knižnica 
852 |a Slovenská národná knižnica 
958 |a article27 
958 |a NB 
958 |a RK 
958 |a OND 
958 |a EUIPO 
992 |a RBX 
999 |c 2801092  |d 2803022