2. československá konferencia o mikroelektronike Sekcia A Fyzikálne vlastnosti mikroelektrotechnických štruktúr a ich meranie
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Conference Proceeding Book |
| Language: | English |
| PhysicalDescription: | 132 s. Tb. Sch. Grafy. 20 cm |
| Published: |
Bratislava
Dom techniky ČSVTS
1980
|
| Edition: | 1. vyd. |
| Subjects: |
| Item Description: | Lit. 137. Čl. aj rus. Náz. na tit. liste: 2. čs. konferencia. Pre účastníkov podujatia a pre služobnú potrebu podnikov. Publ. je predajná iba soc. organizáciám. Rozmn. 137 zázn. lit. o knihách, zbor., čl. a čas. v jaz. rus. a angl. 650 výt. |
|---|---|
| Physical Description: | 132 s. Tb. Sch. Grafy. 20 cm |
