Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
SUBWAVELENGTH LITHOGRAPHY WITH...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
SUBWAVELENGTH LITHOGRAPHY WITH REFLECTION NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPY
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Tománek, Pavel
(Autor)
,
Grmela, Lubomír
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
angličtina
ISBN:
8022709794
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
ISBN:
8022709794
Podobné exempláre
SCANNING OF OPTICAL FIELDS USING NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY
Autor: Káčik, D., a ďalší
POWER EFFICIENCY OF TAPERED PROBE AND IT INFLUENCE ON RESOLUTION IN SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPY
Autor: Škarvada, Pavel, a ďalší
INFLUENCE OF THE SAMPLE COATING AND THE SHAPE OF THE PROBE ON THE RESOLUTION IN SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPY
Autor: Benešová, Markéta, a ďalší
TOPOGRAPHY AND LOCAL SPECTROSCOPY OF TRANSPARENT AND REFLECTION SURFACES WITH SUBWAVELENGTH LATERAL RESOLUTION POWER
Autor: Tománek, P., a ďalší
HORIZONTAL CAVITY SURFACE EMITTING LASER STUDIED BY NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY
Autor: Šatka, Alexander, 1960-, a ďalší
