APPLICATION OF DOPPLER BROADENING SPECTROSCOPY FOR DETECTION OF VACANCY DEFECTS

Podobné exempláre

• Electronic Structure of Oxygen-Vacancy Defect in Silicon
  Autor: Mudroň, Ján, 1949-, a ďalší
• On the accuracy of the Lorentz and Doppler broadening from a spectral line profile
  Autor: Šťastný, F., a ďalší
• Visual spectroscopy detection of triclosan
  Autor: Smyk, Natalia I., a ďalší
• Doppler
  Autor: Loe, Erlend, 1969-
  Vydavateľské údaje: (2006)
• Doppler
  Autor: Loe, Erlend, 1969-
  Vydavateľské údaje: (2013)