Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
NEW APPROACH IN APPROXIMATION...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
NEW APPROACH IN APPROXIMATION OF THE EXPERIMENTAL LINE PROFILES IN X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS OF THIN FILMS
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Šutta, P.
(Autor)
,
Jackuliak, Quido, 1937-
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
angličtina
ISBN:
807100605X
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
ISBN:
807100605X
Podobné exempláre
X-RAY DIFFRACTION LINE PROFILE ANALYSIS OF STRONGLY TEXTURED THIN FILMS OF ZnO
Autor: Šutta, P., a ďalší
DETECTION OF CRYSTALLINE PHASES IN THIN DIAMOND FILMS BY X-RAY DIFFRACTION
Autor: Červeň, Ivan, 1933-
X-Ray Diffraction Phase Analysis
Autor: Vasilev, E. K., a ďalší
X-RAY DIFFRACTOMETRY OF THIN LAYERS - POSSIBILITIES AND PROBLEMS
Autor: Jackuliak, Quido, 1937-, a ďalší
X-RAY DIFFRACTION DETERMINATION OF STRUCTURAL CHANGES OF DIAMOND THIN FILMS PREPARED AT VARIOUS SUBSTRATE TEMPERATURES
Autor: Červeň, Ivan, 1933-
