APA (7th ed.) Citation

Chamraz, J. Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Chamraz, Jozef. Testovanie IO LSI a VLSI - Jeden Z Najvážnejších Problémov čs. Elektroniky.

MLA (9th ed.) Citation

Chamraz, Jozef. Testovanie IO LSI a VLSI - Jeden Z Najvážnejších Problémov čs. Elektroniky.

Warning: These citations may not always be 100% accurate.