Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky

Bibliographic Details
Main Author:	Chamraz, Jozef (Author)
Format:	Article
Language:	Slovak
PhysicalDescription:	Obr. 2. Tb. 2., lit. 5 zázn. v angl., ruš.
Subjects:	integrované obvody testovanie obvodov články zo zborníkov

Description
Physical Description:	Obr. 2. Tb. 2., lit. 5 zázn. v angl., ruš.

Similar Items