Problematika rozvodu veľmi vysokých frekvencí v testerech
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Czech Slovak |
| PhysicalDescription: | Obr. 2., lit. 3 zázn. v češ., angl. |
| Subjects: |
Similar Items
Elektrický návrh montážních technologií testeru
by: Suchyňa, Petr
by: Suchyňa, Petr
Možnosti řešení připojovací jednotky testerů VLSI obvodů
by: Pavel, Michal
by: Pavel, Michal
Automatické měření dynamických parametrů analogových a analogově číslicových integrovaných obvodů
by: Tlamsa, Zdeněk
by: Tlamsa, Zdeněk
Subnanosekundové časování pro testovací systémy
by: Pěchouček, Miroslav
by: Pěchouček, Miroslav
