Možnosti využitia elektrónového zväzku pre testovanie IO ; Miroslav Kováč, Ján Andrík, Vladislav Barák, Igor Čaplovič

Bibliographic Details
Main Authors:	Kováč, Miroslav (Author), Andrík, Ján (Author), Barák, Vladislav (Author), Čaplovič, Igor (Author)
Format:	Article
Language:	Slovak
PhysicalDescription:	Obr. 6. Sch. 5.
Subjects:	integrované obvody elektrónová mikroskopia testovanie obvodov články zo zborníkov

Description
Physical Description:	Obr. 6. Sch. 5.

Similar Items