Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Testery VLSI obvodů
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Testery VLSI obvodů
Bibliographic Details
Main Author:
Exner, Karel, 1932-1996
(Author)
Format:
Article
Language:
Czech
PhysicalDescription:
Obr. 2. Sch. 2. Tb. 2., lit. 2 zázn. v češ., angl.
Subjects:
integrované obvody
testovanie obvodov
články zo zborníkov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Description
Physical Description:
Obr. 2. Sch. 2. Tb. 2., lit. 2 zázn. v češ., angl.
Similar Items
Verifikačné testery VLSI obvodov
by: Gramata, Peter
Problémy řešení PINCONTROL testerů VLSI obvodů
by: Exner, Karel, 1932-1996
Možnosti řešení připojovací jednotky testerů VLSI obvodů
by: Pavel, Michal
Metody autokalibrace testerů VLSI obvodů
by: Pavel, Michal
Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
by: Chamraz, Jozef
