Cover Image

Automatické měření dynamických parametrů analogových a analogově číslicových integrovaných obvodů

Bibliographic Details
Main Author:	Tlamsa, Zdeněk (Author)
Format:	Article
Language:	Czech
PhysicalDescription:	Sch. 3.
Subjects:	integrované obvody testovanie obvodov články zo zborníkov

Similar Items

Testery VLSI obvodů
by: Exner, Karel, 1932-1996

Problémy řešení PINCONTROL testerů VLSI obvodů
by: Exner, Karel, 1932-1996

Možnosti řešení připojovací jednotky testerů VLSI obvodů
by: Pavel, Michal

Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
by: Chamraz, Jozef

Problematika rozvodu veľmi vysokých frekvencí v testerech
by: Suchyňa, Petr