Súčasný stav v problematike generovania testovacej postupnosti pre testovanie integrovaných obvodov LSI a VLSI

Bibliographic Details
Main Author:	Chamraz, J. (Author)
Format:	Article
Language:	Slovak
Subjects:	mikroprocesory integrované obvody články zo zborníkov

Description
Physical Description:	Lit. 16 zázn. v slov., češ., angl., nem.

Similar Items