Cover Image

Súčasný stav v problematike generovania testovacej postupnosti pre testovanie integrovaných obvodov LSI a VLSI

Bibliographic Details
Main Author:	Chamraz, J. (Author)
Format:	Article
Language:	Slovak
Subjects:	mikroprocesory integrované obvody články zo zborníkov

Similar Items

Rýchly procesorový systém na funkčné testovanie integrovaných obvodov LSI a VLSI
by: Chamraz, Jozef, et al.

Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
by: Chamraz, Jozef

Súčasný stav a perspektívy integrovaných obvodov
by: Adamčík, I.

Metodológia návrhu integrovaných obvodov
by: Szántó, Ladislav, 1894-1974

Štruktúry integrovaných obvodov návody na cvičenia
by: Harmatha, Ladislav, 1948-, et al.
Published: (2009)