Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
ON MEASUREMENT UNCERTAINTY OF...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
ON MEASUREMENT UNCERTAINTY OF ADC NONLINEARITIES IN OSCILLATION-BASED TEST
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Biasizzo, Anton
(Autor)
,
Novak, Franc
(Autor)
,
Mrak, Peter
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
angličtina
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
Žiadný popis.
Podobné exempláre
MEASURING STATIC PARAMETERS OF EMBEDDED ADC CORE
Autor: Biasizzo, Anton, a ďalší
TEST STRATEGIES FOR EMBEDDED ADC CORES IN A SYSTEM-ON-CHIP, A CASE STUDY
Autor: Novak, Franc, a ďalší
Estimation of ADC Nonlinearities from the Measurement in Input Voltage Intervals
Autor: Šaliga, Ján, 1958-, a ďalší
ADC Error Measurement Methods
Autor: Didenko, V. I.
Histogram testing of ADC by the exponential signal
Autor: Holcer, Roland, 1976-, a ďalší
