Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY OF...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY OF SILICON CARBIDE
Zobraziť ďalšie vydanie (1)
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Ecke, Gernot
(Autor)
,
Liday, Jozef
(Autor)
,
Breza, Juraj, 1951-
(Autor)
,
Ambacher, Oliver
(Autor)
,
Kosiba, Rastislav, 1974-
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
angličtina
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Dalšie vydanie (1)
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
Žiadný popis.
Podobné exempláre
Auger electron spectroscopy of silicon carbide
Autor: Kosiba, Rastislav, 1974-, a ďalší
Analysis of nanostructures by means of Auger electron spectroscopy
Autor: Ecke, Gernot, 1958-, a ďalší
Quantitative Auger electron spectroscopy utilizing the spectral background
Autor: Liday, Jozef, a ďalší
SOME ASPECTS OF QUANTITATIVE ANALYSIS OF TERNARY ALLOYS OF GROUP III-NITRIDES BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY
Autor: Ecke, Gernod, a ďalší
Auger depth profiling and factor analysis of sputter induced altered layers in SiC
Autor: Kosiba, Rastislav, 1974-, a ďalší
