DIELECTRIC PROPERTIES AND BREAKDOWN OF THE GATE OXIDE IN THE MOS STRUCTURE

Bibliographic Details
Main Authors: Racko, Juraj (Author), Harmatha, Ladislav, 1948- (Author), Valent, Peter (Author)
Format: Article
Language:English

MARC

LEADER 00000nab a2200000ua 4500
001 vtls010849130
003 SK-MaSNL
005 20260303140049.0
008 230218s2010 xo |||||||||||||||||eng|
035 |a (urnnbn)urn:nbn:sk:snk:ar-a0794e 
035 |a urn:nbn:sk:snk-ab69wf 
035 |a (uuid)b5889ed4-c424-4fd0-ab2b-6f9524e1101a 
040 |a SNKBUCL  |b slo  |c SNKBUCL  |e AACR2 
041 0 |a eng 
044 |a xo  |c SK 
100 1 |a Racko, Juraj  |4 aut  |9 791578 
245 1 0 |a DIELECTRIC PROPERTIES AND BREAKDOWN OF THE GATE OXIDE IN THE MOS STRUCTURE  |c Juraj Racko, Ladislav Harmatha, Peter Valent 
700 1 |a Harmatha, Ladislav,  |d 1948-  |4 aut  |9 207503 
700 1 |a Valent, Peter  |4 aut  |9 706453 
773 0 |t Komunikácie : vedecké listy Žilinskej univerzity  |g Roč. 12, č. 2 (2010), s. 5-9 
958 |a OND 
958 |a EUIPO 
958 |a article5 
999 |c 1969331  |d 1971261