Vávra, I., Šmatko, V., Križanová, Z., & Vystavěl, T. Rastrovací mikroskop s dvoma zväzkami nabitých častíc - nový nástroj pre defektoskopiu.
Chicago Style (17th ed.) CitationVávra, Ivo, Vasilij Šmatko, Zuzana Križanová, and Tomáš Vystavěl. Rastrovací Mikroskop S Dvoma Zväzkami Nabitých častíc - Nový Nástroj Pre Defektoskopiu.
MLA (9th ed.) CitationVávra, Ivo, et al. Rastrovací Mikroskop S Dvoma Zväzkami Nabitých častíc - Nový Nástroj Pre Defektoskopiu.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.


