EXPERIMENTAL ANALYSIS OF COMMUTATION PROCESS OF POWER SEMICONDUCTOR TRANSISTOR'S STRUCTURES

Podrobná bibliografia
Hlavní autori: Dobručký, Branislav (Autor), Lokšeninec, Ivan (Autor), Frivaldský, Michal, 1983- (Autor), Špánik, Pavol (Autor), Drgoňa, Peter (Autor)
Médium: Článok
Jazyk:angličtina

MARC

LEADER 00000nab a2200000ua 4500
001 vtls010796827
003 SK-MaSNL
005 20260303152404.0
008 230222s2007 xo |||||||||||||||||eng|
035 |a (urnnbn)urn:nbn:sk:snk:ar-a04jp9 
035 |a (uuid)a2d8e5ae-24a8-4edd-8519-796f9f87cc0d 
035 |a urn:nbn:sk:snk-ab4tkb 
040 |a SNKBUCL  |b slo  |c SNKBUCL  |e AACR2 
041 0 |a eng 
044 |a xo  |c SK 
100 1 |a Dobručký, Branislav  |4 aut  |9 288330 
245 1 0 |a EXPERIMENTAL ANALYSIS OF COMMUTATION PROCESS OF POWER SEMICONDUCTOR TRANSISTOR'S STRUCTURES  |c Branislav Dobručký, Ivan Lokšeninec, Michal Frívaldský, Pavol Špánik, Peter Drgoňa 
700 1 |a Lokšeninec, Ivan  |4 aut  |9 1172914 
700 1 |a Frivaldský, Michal,  |d 1983-  |4 aut  |9 207995 
700 1 |a Špánik, Pavol  |4 aut  |9 6710 
700 1 |a Drgoňa, Peter  |4 aut  |9 702594 
773 0 |t Advances in electrical and electronic engineering  |g Roč. 6, č. 1 (2007), s. 50-53 
958 |a OND 
958 |a EUIPO 
958 |a article3 
999 |c 2023124  |d 2025054