Cover Image

Analýza využitia kapacitných metód pri určovaní koncentračných profilov nosičov náboja, štruktúr MOS s implantovanou vrstvou operačného typu vodivosti ako substrát

Bibliographic Details
Main Author:	Kinder, R. (Author)
Format:	Article
Language:	Slovak
PhysicalDescription:	Lit. 3 zázn. v slov., angl.
Subjects:	polovodiče nosiče náboja články zo zborníkov

Similar Items

Vyhodnocovanie koncentračných profilov v GaAs kapacitnou metódou
by: Hulényi, Ladislav, 1938-, et al.

Hĺbkové profily koncentrácií nosičov náboja a Hallových pohyblivostí v implantovaných vrstvách GaAs(Si) ; Karol Měřinský, Pavol Boháček, Peter Kordoš, Július Betko
by: Měřínský, Karol, 1928-, et al.

Vplyv podmienok iónovej implantácie na koncentračný profil majoritných nosičov náboja
by: Kinder, R., et al.

Povrchová generačná rýchlosť nosičov nábojov pri nerovnovážnom ochudobnení povrchu kremíka ; Ladislav Hulényi, Ladislav Harmatha, Otto Csabay, Miloš Orgoň
by: Hulényi, Ladislav, 1938-, et al.

Problémy určovania pohyblivostí a koncentrácií nosičov náboja v poloizolačných GaAs materiáloch pomocou galvanomagnetických meraní
by: Betko, Július, 1935-, et al.