Cover Image

Skúšky spoľahlivosti mikroelektronických štruktúr

Bibliographic Details
Main Authors: Zeiger, Gerhard (Author), Kmeť, Stanislav, 1943- (Author)
Format: Article
Language:Slovak
PhysicalDescription:Obr. 3. Res. slov., rus., nem., angl., lit. 2 zázn. v slov.
Subjects:
mikroelektronické systémy
elektronické súčiastky
články zo zborníkov
Description
Physical Description:Obr. 3. Res. slov., rus., nem., angl., lit. 2 zázn. v slov.

Similar Items