Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
X-RAY DIFFRACTION LINE PROFILE...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
X-RAY DIFFRACTION LINE PROFILE ANALYSIS OF STRONGLY TEXTURED THIN FILMS OF ZnO
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Šutta, P.
(Autor)
,
Jackuliak, Quido, 1937-
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
angličtina
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
Žiadný popis.
Podobné exempláre
NEW APPROACH IN APPROXIMATION OF THE EXPERIMENTAL LINE PROFILES IN X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS OF THIN FILMS
Autor: Šutta, P., a ďalší
STUDY OF THE DOPED-ZnO THIN FILMS
Autor: Ptáček, P., a ďalší
Texture of the steels studied by the neutron and X-ray diffraction method
Autor: Černík, M., a ďalší
DETECTION OF CRYSTALLINE PHASES IN THIN DIAMOND FILMS BY X-RAY DIFFRACTION
Autor: Červeň, Ivan, 1933-
X-Ray Diffraction Phase Analysis
Autor: Vasilev, E. K., a ďalší
