Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
Metóda a zariadenie na meranie...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
Metóda a zariadenie na meranie životnosti spojov elektronických súčiastok z hľadiska výskumu elektromigrácie
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Luby, Štefan, 1941-
(Autor)
,
Lobotka, P.
(Autor)
,
Lobotka, Peter (elektrotechnik)
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
slovenčina
Fyzický popis:
Obr. 6.
Predmet:
elektromigrácia
integrované obvody
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
Fyzický popis:
Obr. 6.
Podobné exempláre
Príspevok k teórii elektromigrácie po hraniciach zŕn
Autor: Kedro, Martin
Theory of the driving force of electromigration: Born approximation
Autor: Horňanský, Ľudovít
Vplyv zaťaženia spojov pre integrované obvody superpozíciou jednosmerného a striedavého prúdu na ich životnosť a jav elektromigrácie
Autor: Luby, Štefan, 1941-, a ďalší
Vplyv pasivačných vrstiev SiO2 na vlastnosti tenkovrstvových spojov pre integrované obvody
Autor: Luby, Štefan, 1941-, a ďalší
Meranie relatívnej permilivity substrátov pre MIO v rezonátore s vidom TE 111
Autor: Steiner, V., a ďalší