Cover Image

Možnosti testovania pasivovaných integrovaných obvodov pomocou elektrónového zväzku

Bibliographic Details
Main Authors: Kováč, M. (Author), Barák, Vladislav (Author)
Format: Article
Language:Slovak
PhysicalDescription:Res. angl., lit. 8 zázn. v angl., slov.
ISSN:0013-578X
Subjects:
integrované obvody
testovanie obvodov
zväzok elektrónový
články z novín a časopisov
Description
Physical Description:Res. angl., lit. 8 zázn. v angl., slov.
ISSN:0013-578X

Similar Items