Traps in Proton Irradiated Silicon Characterized by Deep Level Transient Spectroscopy
| Hlavní autori: | , |
|---|---|
| Médium: | Článok |
| Jazyk: | slovenčina angličtina |
| Fyzický popis: | Grafy 3, tab. 1, lit. 17 zázn. v angl. |
| ISSN: | 0013-578X |
| Predmet: |
Podobné exempláre
Optical excitation in deep level transient spectroscopy methods
Autor: Harmatha, Ladislav, 1948-, a ďalší
Autor: Harmatha, Ladislav, 1948-, a ďalší
Evaluation of Non-Exponentiality of Isothermal DLTS Transients in InP-Related Heterostructures ; Miroslav Gaži, Viliam Nágl, L. Harmatha, A. Šatka
Autor: Gaži, Miroslav, a ďalší
Autor: Gaži, Miroslav, a ďalší
Investigation of Deep Energy Levels in an AlGaAs-GaAs Heterostructure by DLTS
Autor: Stuchlíková, Ľubica, 1967-, a ďalší
Autor: Stuchlíková, Ľubica, 1967-, a ďalší
High Repetition Frequency Mode in Charge Transient Spectroscopy
Autor: Barančok, Drahoslav, 1945-2006, a ďalší
Autor: Barančok, Drahoslav, 1945-2006, a ďalší
