Method of measurement of thermal conductivity of resistive layers in thick-film structure
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Slovak English |
| PhysicalDescription: | Grafy, sch., tab. |
| ISSN: | 1335-3632 |
| Subjects: |
Similar Items
Vlastnosti hrubovrstvových RuO2 rezistorov pripravených modifikovanou technológiou
by: Kardoš, Slavomír, et al.
by: Kardoš, Slavomír, et al.
Vplyv vlastného oteplenia hrubovrstvového rezistora na zmesi jeho elektrického odporu
by: Slosarčík, Stanislav
by: Slosarčík, Stanislav
Šum 1/f v tlustovrstvových resistorech
by: Švec, Miloslav, 1951-, et al.
by: Švec, Miloslav, 1951-, et al.
Zariadenie na dostavovanie hrubovrstvových rezistorov
by: Michalka, Vladimír, et al.
by: Michalka, Vladimír, et al.
