Vývoj a budúce využitie biometrie: Prieskum technologickej zrelosti biometrie pomocou hype krivky.
Chicago Style (17th ed.) CitationVývoj a Budúce Využitie Biometrie: Prieskum Technologickej Zrelosti Biometrie Pomocou Hype Krivky.
MLA (9th ed.) CitationVývoj a Budúce Využitie Biometrie: Prieskum Technologickej Zrelosti Biometrie Pomocou Hype Krivky.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.


