Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
METROLOGICAL SYSTEM OF DISTANC...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
METROLOGICAL SYSTEM OF DISTANCE IN LAND SURVEYING
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Abelovič, Jaroslav, 1932-1996
(Autor)
,
Ježko, Ján, 1958-
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
slovenčina
angličtina
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Podobné exempláre
Metrology and quality systems
Autor: Pálenčár, Rudolf, 1949-
Metrological standards in nanoelectromechanical systems
Autor: Talar, Rafał
ACCREDITATION OF METROLOGY EDUCATION AND CERTIFICATION OF METROLOGY PERSONNEL
Autor: Janáč, Alexander, 1939-, a ďalší
Confidence Interval for the Distance of Two Micro/Nano Structures and Its Applications in Dimensional Metrology
Autor: Wimmer, G., a ďalší
SLOVAK INSTITUTE OF METROLOGY
Predchádzajúci
Ďalší
Podobné exempláre
Metrology and quality systems
Autor: Pálenčár, Rudolf, 1949-
Metrological standards in nanoelectromechanical systems
Autor: Talar, Rafał
ACCREDITATION OF METROLOGY EDUCATION AND CERTIFICATION OF METROLOGY PERSONNEL
Autor: Janáč, Alexander, 1939-, a ďalší
Confidence Interval for the Distance of Two Micro/Nano Structures and Its Applications in Dimensional Metrology
Autor: Wimmer, G., a ďalší
SLOVAK INSTITUTE OF METROLOGY