STN EN ISO 6428: 6428: 2001, (01 3100) Technické výkresy. Mikrografické požiadavky

Bibliographic Details
Format: Book
Language:Undetermined
PhysicalDescription:8 s.
Published: Bratislava Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR 1999
Subjects:
Description
Item Description:Do 10.2001 STN ISO 6428:04.1999
Physical Description:8 s.