STN EN ISO 6428: 6428: 2001, (01 3100) Technické výkresy. Mikrografické požiadavky

Podrobná bibliografia
Médium: Kniha
Jazyk:neznámy jazyk
Fyzický popis:8 s.
Vydavateľské údaje: Bratislava Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR 1999
Predmet:

Podobné exempláre