Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
NEAR-FIELD PHOTOCURRENT SPECTR...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
NEAR-FIELD PHOTOCURRENT SPECTROSCOPY: SUPERRESOLVING METHOD FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR INTERFACES
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Grmela, Lubomír
(Autor)
,
Tománek, Pavel
(Autor)
,
Létal, Petr
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
angličtina
ISBN:
8022714135
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Podobné exempláre
SUBWAVELENGTH LITHOGRAPHY WITH REFLECTION NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPY
Autor: Tománek, Pavel, a ďalší
SEMICONDUCTOR NANOMETER MACHINING BY LASER RADIATION IN THE NEAR FIELD OF A TIP
Autor: Frank, H.
Characterization Of Paper By Near Infrared Spectroscopy
Autor: Lichtblau, Dirk, a ďalší
NEW SPECTROSCOPIC METHOD FOR THE OBSERVATION OF SEMICONDUCTOR INTERFACE STATES AND ITS APPLICATION TO MOS STRUCTURE
Autor: Kobayashi, H., a ďalší
Near Infrared Diffuse Reflectance Transmittance Spectroscopy
Autor: Kováč, Štefan, 1928-2013, a ďalší
