Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Scanning probe microscopy
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Scanning probe microscopy
Bibliographic Details
Main Author:
Lányi, Štefan
(Author)
Format:
Article
Language:
English
PhysicalDescription:
Obr.
ISBN:
978-80-969124-4-5
Subjects:
mikroskopia rastrovacia sondová
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Creep damage distribution in silicon nitride by SLAM
by: Lofaj, František, 1960-
Energy Resolution of the Auger Spectrometer in the Scanning Electron Microscope BS 350
by: Matečková, M., et al.
Izolovaný kardiomyocyt králika v rastrovacom elektrónovom mikroskope ; Fedor Šimko, Daniel Hornáček, Karol Kapeller, Atanáz Fízeľ, Alžbeta Fízeľová, Marián Turčáni
by: Šimko, Fedor, 1956-, et al.
Nové trendy ve zobrazování povrchů materiálů pomocí rastrovací elektronové mikroskopie
by: Hutař, Otakar, et al.
Ing. Václav Hulínsky, CSc., Karel Junek, prom. fyz., CSc.: Zkoumání látek elektronovým paprskem. 1. vyd., Praha 1983
by: -tes-, et al.
