Vyšetrovanie kryštalografických defektov v polovodičových materiáloch pre optoelektroniku ; R. Srnánek, A. Šatka, G. Wagner, K. Seidel, V. Gottschalch
| Main Authors: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Slovak |
| PhysicalDescription: | Obr. 4., lit. 5 zázn. v slov., angl. |
| Subjects: |
| Physical Description: | Obr. 4., lit. 5 zázn. v slov., angl. |
|---|


