Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Testovanie PZIO - súčasť návrh...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Testovanie PZIO - súčasť návrhového procesu
Bibliographic Details
Main Author:
Heglas, Ladislav
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
integrované obvody
testovanie obvodov
články zo zborníkov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
by: Chamraz, Jozef
Problematika rozvodu veľmi vysokých frekvencí v testerech
by: Suchyňa, Petr
Tester TADA 4
by: Štepánek, Jaroslav
Verifikačné testery VLSI obvodov
by: Gramata, Peter
Metódy štrukturovaného návrhu IO
by: Duda, Milan
