Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Klimatizované zariadenie na sk...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Klimatizované zariadenie na skúšanie IO
Bibliographic Details
Main Authors:
Nedelka, Jozef
(Author)
,
Knapo, Pavel
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
integrované obvody
testovanie obvodov
zahorovanie
články zo zborníkov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Princíp a popis zariadenia na zahorovanie a súčasné testovanie pamäťových prvkov
by: Gembčík, Miroslav
Metódy štrukturovaného návrhu IO
by: Duda, Milan
Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
by: Chamraz, Jozef
Možnosti řešení připojovací jednotky testerů VLSI obvodů
by: Pavel, Michal
Problematika rozvodu veľmi vysokých frekvencí v testerech
by: Suchyňa, Petr