Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
Klimatizované zariadenie na sk...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
Klimatizované zariadenie na skúšanie IO
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Nedelka, Jozef
(Autor)
,
Knapo, Pavel
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
slovenčina
Fyzický popis:
Obr. 1.
Predmet:
integrované obvody
testovanie obvodov
zahorovanie
články zo zborníkov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Podobné exempláre
Princíp a popis zariadenia na zahorovanie a súčasné testovanie pamäťových prvkov
Autor: Gembčík, Miroslav
Metódy štrukturovaného návrhu IO
Autor: Duda, Milan
Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
Autor: Chamraz, Jozef
Možnosti řešení připojovací jednotky testerů VLSI obvodů
Autor: Pavel, Michal
Problematika rozvodu veľmi vysokých frekvencí v testerech
Autor: Suchyňa, Petr
Predchádzajúci
Ďalší
Podobné exempláre
Princíp a popis zariadenia na zahorovanie a súčasné testovanie pamäťových prvkov
Autor: Gembčík, Miroslav
Metódy štrukturovaného návrhu IO
Autor: Duda, Milan
Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
Autor: Chamraz, Jozef
Možnosti řešení připojovací jednotky testerů VLSI obvodů
Autor: Pavel, Michal
Problematika rozvodu veľmi vysokých frekvencí v testerech
Autor: Suchyňa, Petr