Měření parametrů tranzistorů MOS v integrovaných obvodech

Bibliographic Details
Main Authors:	Kirchner, M. (Author), Kirschner, M. (Author)
Format:	Article
Language:	Czech Slovak
PhysicalDescription:	Lit. 3 zázn. v češ., angl.
Subjects:	integrované obvody tranzistory MOS meranie veličín elektrických články zo zborníkov

Similar Items