Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Zapojení rozšiřující vlastnost...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Zapojení rozšiřující vlastnosti testovacího systému ZP 256
Bibliographic Details
Main Authors:
Exner, Karel, 1932-1996
(Author)
,
Kristen, Jiří
(Author)
Format:
Article
Language:
Czech
Subjects:
obvody integrované pamäťové
testovanie obvodov
články zo zborníkov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Princíp a popis zariadenia na zahorovanie a súčasné testovanie pamäťových prvkov
by: Gembčík, Miroslav
Problémy řešení PINCONTROL testerů VLSI obvodů
by: Exner, Karel, 1932-1996
Testery VLSI obvodů
by: Exner, Karel, 1932-1996
Strategie návrhu testovacích programů pamětí
by: Kristen, Jiří
Testovanie IO LSI a VLSI - jeden z najvážnejších problémov čs. elektroniky
by: Chamraz, Jozef