Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Strategie návrhu testovacích p...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Strategie návrhu testovacích programů pamětí
Bibliographic Details
Main Author:
Kristen, Jiří
(Author)
Format:
Article
Language:
Czech
Subjects:
obvody integrované pamäťové
testery (elektr.)
články zo zborníkov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Provozní možnosti zkoušeče pamětí ZP 256
by: Tomeš, Karel
Charakteristika testera MTS 20
by: Chamraz, Jozef
Programové vybavenie testera MTS 20
by: Fuchs, František
Budící obvod pro testovací techniku
by: Exner, Karel, 1932-1996, et al.
Zapojení rozšiřující vlastnosti testovacího systému ZP 256
by: Exner, Karel, 1932-1996, et al.
