Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Subnanosekundové časování pro...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Subnanosekundové časování pro testovací systémy
Bibliographic Details
Main Author:
Pěchouček, Miroslav
(Author)
Format:
Article
Language:
Czech
Subjects:
integrované obvody
testovanie obvodov
články zo zborníkov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Problematika rozvodu veľmi vysokých frekvencí v testerech
by: Suchyňa, Petr
Elektrický návrh montážních technologií testeru
by: Suchyňa, Petr
Možnosti řešení připojovací jednotky testerů VLSI obvodů
by: Pavel, Michal
Automatické měření dynamických parametrů analogových a analogově číslicových integrovaných obvodů
by: Tlamsa, Zdeněk
Problémy řešení PINCONTROL testerů VLSI obvodů
by: Exner, Karel, 1932-1996
