Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
MĚŘENÍ RELATIVNÍ PERMITIVITY □...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
MĚŘENÍ RELATIVNÍ PERMITIVITY □33 NA KRYSTALECH KDP A ADP PŘI MIKROVLNNÝCH FREKVENCÍCH
Bibliographic Details
Main Author:
Zehentner, Ján
(Author)
Format:
Article
Language:
Czech
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Fotometr pro měření slunečních oscilací na nízkých frekvencích
by: Kupryakov, Jurij Aleksejevič
NÍZKOZTRÁTOVÉ DIELEKTRIKUM S REGULOVATELNOU HODNOTOU POMĚRNÉ PERMITIVITY
by: Zehentner, Ján
Pracoviště VÚS pro měření mikrovlnných antén
by: Kolář, J.
Metoda měření fázového šumu mikrovlnných oscilátorů
by: Krupa, K.
EXTINKCE V REÁLNÝCH KRYSTALECH
by: Kulda, J.
