Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Automatické meranie závislosti...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Automatické meranie závislosti CDD-U štruktúr MOS impulzovou metódou
Bibliographic Details
Main Authors:
Kinder, Rudolf
(Author)
,
Fekiač, Jozef
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
polovodiče
meranie automatické
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Automatické měření dvouzvukového TV doprovodu
by: Spejchal, L.
Technické a ekonomické aspekty zachovania LSI MOS IO
by: Pfliegel, P.
Analýza využitia kapacitných metód pri určovaní koncentračných profilov nosičov náboja, štruktúr MOS s implantovanou vrstvou operačného typu vodivosti ako substrát
by: Kinder, R.
Prenosová účinnosť v CCD obvodoch a jej využívanie na testovanie MOS technológie
by: Pastorek, A., et al.
Vyšetrovanie VA charakteristík GaAs(Cr) štruktúr
by: Měřínský, Karol, 1928-, et al.