Degradation of n-type GaAs MESFETs

Bibliographic Details
Main Authors:	Drápal, S. (Author), Klierová, E. (Author), Rothbauer, M. (Author), Drápal, Stanislav (Author), Klierová, Eva (Author), Rothbauer, Miloš (Author)
Format:	Article
Language:	English
Subjects:	polovodiče tranzistory MESFET články z novín a časopisov

Similar Items