Cover Image

Degradation of n-type GaAs MESFETs

Bibliographic Details
Main Authors: Drápal, S. (Author), Klierová, E. (Author), Rothbauer, M. (Author), Drápal, Stanislav (Author), Klierová, Eva (Author), Rothbauer, Miloš (Author)
Format: Article
Language:English
PhysicalDescription:Tb. 3. Sch. 1. Grafy 7. Res. čes., angl., nem., rus., lit. 10 zázn. v češ., angl., ruš.
Subjects:
polovodiče
tranzistory MESFET
články z novín a časopisov
Description
Physical Description:Tb. 3. Sch. 1. Grafy 7. Res. čes., angl., nem., rus., lit. 10 zázn. v češ., angl., ruš.

Similar Items