DETERMINATION OF CARRIER PROFILES ON BEVELLED GaAs STRUCTURES BY PCIV METHOD

Podrobná bibliografia
Hlavní autori:	Ściana, Beata, 1965- (Autor), Radziewicz, Damian (Autor), Walachová, Jarmila, 1940- (Autor), Hulényi, Ladislav (Autor), Tlaczala, Marek (Autor), Kinder, Rudolf (Autor), Srnánek, Rudolf (Autor)
Médium:	Článok
Jazyk:	angličtina

Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method Autor Kinder, Rudolf, 1940-, Srnánek, Rudolf, 1944-, Walachová, Jarmila, 1940-, Hulényi, Ladislav, 1938-, Tlaczala, Marek, 1949-, Ściana, Beata, 1965-, Radziewicz, Damian, 1969-

Zdroj článku: Journal of electrical engineering = Elektrotechnický časopis. - Vol. 55, no. 9-10 (2004), p. 261-264

ISSN: 1335-3632

Fyzický popis: : Grafy

Článok