Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Determination of carrier profi...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method
Show other versions (1)
Bibliographic Details
Main Authors:
Kinder, Rudolf, 1940-
(Author)
,
Srnánek, Rudolf, 1944-
(Author)
,
Walachová, Jarmila, 1940-
(Author)
,
Hulényi, Ladislav, 1938-
(Author)
,
Tlaczala, Marek, 1949-
(Author)
,
Ściana, Beata, 1965-
(Author)
,
Radziewicz, Damian, 1969-
(Author)
Format:
Article
Language:
English
Subjects:
GaAs polovodiče
nosiče náboja
elektrické merania
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Other Versions (1)
Similar Items
Staff View
Similar Items
Problémy určovania pohyblivostí a koncentrácií nosičov náboja v poloizolačných GaAs materiáloch pomocou galvanomagnetických meraní
by: Betko, Július, 1935-, et al.
Vyhodnocovanie koncentračných profilov v GaAs kapacitnou metódou
by: Hulényi, Ladislav, 1938-, et al.
Analysis and correction of carrier spilling effect for different Si structures
by: Kuruc, Marián, 1979-, et al.
Hĺbkové profily koncentrácií nosičov náboja a Hallových pohyblivostí v implantovaných vrstvách GaAs(Si) ; Karol Měřinský, Pavol Boháček, Peter Kordoš, Július Betko
by: Měřínský, Karol, 1928-, et al.
Analýza využitia kapacitných metód pri určovaní koncentračných profilov nosičov náboja, štruktúr MOS s implantovanou vrstvou operačného typu vodivosti ako substrát
by: Kinder, R.