Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Technické a ekonomické aspekty...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Technické a ekonomické aspekty zachovania LSI MOS IO
Bibliographic Details
Main Author:
Pfliegel, P.
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
polovodiče
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Prenosová účinnosť v CCD obvodoch a jej využívanie na testovanie MOS technológie
by: Pastorek, A., et al.
Epitaxní růst látek A B z plynné fáze: teoretické aspekty a ověření technologie na (Ga,In)As
by: Stejskal, Jozef, et al.
Automatické meranie závislosti CDD-U štruktúr MOS impulzovou metódou
by: Kinder, Rudolf, et al.
On some characteristics of a semiconductor surface
by: De, S. S., et al.
Súvis medzi efektívnou hmotnosťou, šírkou zakázaného pásu a mriežkovou konštantou polovodičov typu A"B
by: Hrivnák, Ľubomír, 1930-1993
