Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Skúmanie hlbokých záchytných c...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Skúmanie hlbokých záchytných centier v epitaxných vrstvách GaAs metódou DLTS
Bibliographic Details
Main Authors:
Dubecký, František, 1946-
(Author)
,
Měřínský, Karol, 1928-
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
vrstvy epitaxné GaAs
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Využitie DLTS a ODLTS na skúmanie hlbokých záchytných centier v GaAs Schottkyho bariérach
by: Dubecký, František, 1946-, et al.
Electrical and Structural Properties of GaAs Layers Grown in a Molecular Beam Epitaxy System with Nontraditional Pumping
by: Faktor, Dušan
Photoreflectance as a Method for Determination of InxGa1-xAs Composition
by: Morvic, Marián, et al.
Investigation of Deep Energy Levels in an AlGaAs-GaAs Heterostructure by DLTS
by: Stuchlíková, Ľubica, 1967-, et al.
Acoustic-DLTS investigation of GaAs MIS structures
by: Bury, P., et al.