Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Meranie relatívnej permilivity...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Meranie relatívnej permilivity substrátov pre MIO v rezonátore s vidom TE 111
Bibliographic Details
Main Authors:
Steiner, V.
(Author)
,
Hajach, P.
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
integrované obvody
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Nový typ hybridného analógového funkčného bloku a jeho využití při detekci laserového záření
by: Malý, P.
Meranie na lineárnych integrovaných obvodoch
by: Vrábel, Jozef
Published: (1975)
Timing verification of PAL integrated circuits
by: Čonmačenko, V., et al.
III. celostátní seminář o technologii a použití integrovaných obvodů MOS 6.-8. května 1975 ve Ždáni
Published: (1975)
Štvrtý celoštátny seminár o technológii a použití integrovaných obvodov typu MOS Piešťany 5.-7. 10. 1976 : zborník prednášok
Published: (1976)