Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Unifikovaný rad testovacích št...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Unifikovaný rad testovacích štruktúr umiestnených do deliaceho rámika unipolárnych VLSI obvodov
Bibliographic Details
Main Authors:
Adamčík, Ivan
(Author)
,
Malý, Ľudovít
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
obvody VLSI unipolárne
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Návrh a vlastnosti unipolárnych zákazníckych integrovaných obvodov
by: Áč, V.
Aplikácie paralelných počítačov v automatizácii návrhu VLSI
by: Benetir, M., et al.
Skorooptimálne VLSI algoritmy pre výber l-tého minimálneho čísla
by: Vrťo, Imrich, 1953-
Some complexity aspects of VLSI computations. Part 5. Nondeterministic and probabilistic VLSI circuits
by: Hromkovič, Juraj, 1958-
Integrované obvody 1
by: Csabay, Otto, 1937-2013
Published: (2001)